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寿命测试

高加速寿命测试

高加速寿命测试

申请周期:1-3周 有效期:无期限
简述 高加速寿命测试 (Highly Accelerated Life Testing,简称HALT测试)是一种对电子和机械装配件利用快速高、低温变换的高环境应力来揭示设计缺陷和不足的过程。高加速寿命测试的目的是在,短时间内即可进行产品的失效原因分析,可在产品开发的早期阶段识别出产品的功能和破坏极限,从而优化产品的可
高加速寿命测试
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  • 介绍
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  • 简述

    高加速寿命测试(Highly Accelerated Life Testing,简称HALT测试)是一种对电子和机械装配件利用快速高、低温变换的高环境应力来揭示设计缺陷和不足的过程。高加速寿命测试的目的是在,短时间内即可进行产品的失效原因分析,可在产品开发的早期阶段识别出产品的功能和破坏极限,从而优化产品的可靠性。
     
    HALT以连续的测试、失效分析、缺陷改进及验证构成了整个程序,而且可能是个闭环循环过程。往往一个测试计划,需要重复进行几次,除非一次性能经受加速应力试验。其关键在于分析失效的根本原因。
     
     
    测试目的
     
    · 利用高环境应力将产品设计缺陷激发出来,并加以改善;
     
    · 了解产品的设计能力及失效模式;
     
    · 作为高应力筛选及制定品质核查规格的参考;
     
    · 快速找出产品制造过程的瑕疵;
     
    · 增加产品的可靠性,减少维修成本;
     
    · 建立产品设计能力数据库,为研发提供依据并缩短设计制造周期。
     
     
     
    实验室高加速测试设备
     
    高加速老化试验机
     
     
     
    测试能力
     
    实验室测试范围:最低温度:-70℃,最高温度:150℃
     
    湿度范围:60℃/min
     
     
     
    高加速寿命试验项目包括
     
    · 低温步进应力试验;
     
    · 高温步进应力试验;
     
    · 快速热循环试验;
     
    · 振动步进应力试验;
     
    · 综合应力试验;
     
    · 工作应力测试。
     
     
     
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